2011
2011年8月14 -19日，陈飞达参加北京大学承办的第十六届国际绝缘体辐照效应国际会议。REI会议始于1981年，每两年召开一次，是交流和讨论绝缘体材料的辐照效应以及辐照改性领域最新成果的国际性论坛。此次会议参加者多达200多人，来自30多个国家和地区。
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