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刘健参加第20届国际绝缘体辐射效应会议

时间:2019-09-04作者:来源:核技术与多学科交叉创新研究中心点击:466


    2019年8月18-23日,IINT课题组博士研究生刘健前往哈萨克斯坦努尔苏丹参加第20届国际绝缘体辐射效应会议(International Conference on Radiation Effects in Insulators, REI)。该系列会议每两年举办一届,致力于绝缘体与非金属材料的辐射效应基础与应用研究。本次会议由欧亚国立大学(Eurasian National University)主办,国际原子能机构(IAEA)、俄罗斯核研究联合研究所(JINR)等共同协办。大会共吸引了200余名来自美国、英国、意大利、芬兰、俄罗斯、日本、德国、法国、哈萨克斯坦及中国的专家学者参会。

    IINT课题组博士研究生刘健作了题为“Molecular dynamics simulation of swift heavy ion irradiation effects on multilayer graphene and diamond-like-carbon”的报告,介绍了本课题组在石墨烯辐照损伤方面的研究工作,并与多位专家讨论了在石墨烯上沉积类金刚石薄膜的可行性以及高能重离子辐照对该结构产生的影响。此外,刘健还听取了“离子束辐照效应”、“低维材料与纳米材料”、“金刚石与相关材料”等方面的专题报告,了解了当今世界前沿的研究领域与研究成果。








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