2025年4月16-18日，第六届电子元器件辐射效应国际会议(ICREED-2023)在扬州召开。IINT课题组汤晓斌教授、陈飞达副教授参加了此次会议。ICREED会议是国际辐射效应领域三大国际会议之一，本次会议汇聚来自中国、俄罗斯、法国、英国、日本等12个国家和地区的500余位专家学者，围绕电子元器件与材料辐射效应领域前沿技术与最新成果展开研讨。会议共设置特邀报告48场、口头报告92场、海报展示208篇，并举办产学用论坛1场。

    南京航空航天大学是本次ICREED-2025会议的联合举办单位，IINT课题组负责人汤晓斌教授带领团队积极协助主办单位扬州大学，团队成员投稿并录用3篇，包括1个特邀报告和2个海报。会议期间，课题组陈飞达老师做了题为“Optimization effects and energetics mechanism of neutron irradiation on PbSe-based thermoelectric materials”的特邀报告，对PbSe基热电材料的中子辐照改性效果及微观机制进行详细介绍；汤晓斌教授作为分会场主持人，与参会报告嘉宾进行了深入的学术交流。